신뢰성 시험
온습도시험 개요
제품이 사용환경에 따라 일정한 온습도를 유지 및 변화를 주어 제품의 내한성, 내열성, 내습성 등 온습도 환경에서 내구성을 갖고 있는지를 평가하는 시험 서비스입니다.
온습도시험 서비스 항목
내한성시험, 내열성시험, 내습성시험, 온습도싸이클시험 등
어떤 기업에 필요할까요?
전기, 전자기기 모듈 및 부품 개발 업체
자동차 관련 모듈 및 부품 개발 업체
반도체 소자 및 모듈 개발 업체
소재/장비/부품 업체
산학연 공동연구개발 프로젝트 지원
주요 장비현황
온습도 챔버(고온/저온/습도, 1 m) 1 ~ 8, 온습도 챔버 9(대형, 3 m), 온습도 챔버 10 (폭발보호)
열충격시험 개요
온도변화 환경에 따른 온도급변(저온/고온/상온), 정속온도변화 및 액조식 온도급변 등 온도 스트레스 인가하여 제품의 내구성을 평가하는 시험 서비스입니다.
열충격시험 서비스 항목
온도급변시험(2-Zone 엘리베이트방식, 3-Zone 뎀퍼방식, 액조식 방식), 정속시험 등
어떤 기업에 필요할까요?
전기, 전자기기 모듈 및 부품 개발 업체
자동차 관련 모듈 및 부품 개발 업체
반도체 소자 및 모듈 개발 업체
소재/장비/부품 업체
산학연 공동연구개발 프로젝트 지원
주요 장비현황
2-Zone 열충격 챔버 1 ~ 3, 3-Zone 열충격 챔버, 액조식 열충격 챔버, 고속싸이클챔버
기계적시험 개요
제품의 출하, 유통, 개발 및 사용 중에서 발생할 수 있는 다양한 기계적 스트레스(진동, 충격, 낙하 등)를 시뮬레이션하여 사전에 문제 해결 및 제품의 내구성을 평가하는 시험 서비스입니다.
기계적시험 서비스 항목
진동시험(정현파, 랜덤파), 충격시험, 낙하시험(단품, 포장품), 인장압축시험, 스마트카드 수명시험(비틀림, 굽힙) 등
어떤 기업에 필요할까요?
전기, 전자기기 모듈 및 부품 개발 업체
자동차 관련 모듈 및 부품 개발 업체
소재/장비/부품 업체
산학연 공동연구개발 프로젝트 지원
주요 장비현황
진동시험기, 충격시험기, 낙하시험기(단품용), 낙하시험기(포장용), 인장압축시험기, 스마트카드수명시험기 등
특수환경시험 개요
특수 환경에 따라 제품이 받는 스트레스를 미리 분석하고, 각각의 제품이 주어진 특수 환경에서 최적의 성능을 평가하는 내구성 시험 서비스입니다.
HAST, HALT 등 초가속 스트레스 인가하는 장비로서, 잠재적인 고장, 수명 및 고장률 등 제품 보증에 관련된 분석하는 시험 서비스입니다.
특수환경시험 서비스 항목
고온시험, 고도감압시험(고온, 저온 및 압력), 방수시험, 분진시험, 염수분무시험, 유동혼합가스 4종 시험, HAST, HALT 등
어떤 기업에 필요할까요?
전기, 전자기기 모듈 및 부품 개발 업체
자동차 관련 모듈 및 부품 개발 업체
소재/장비/부품 업체
산학연 공동연구개발 프로젝트 지원
주요 장비현황
고온챔버, 고도감압챔버, 방수시험기, 분진시험기, 염수분무시험기, 유동혼합가스챔버, HAST시험기, HALT챔버 등
전기적시험 개요
전자파 장해가 존재하는 환경에서 제품의 최적의 성능을 유지하면서 동작할 수 있는 전자파 내성을 평가하는 시험입니다.
전기적시험 서비스 항목
정전기 내성시험, 내전압 및 절연저항 시험
어떤 기업에 필요할까요?
전기, 전자기기 모듈 및 부품 개발 업체
소재/장비/부품 업체
산학연 공동연구개발 프로젝트 지원
주요 장비현황
정전기내성시험기, 내전 및 절연저항 시험기
분석시험 개요
신뢰성 시험(온습도, 온도변화, 기계적, 특수환경 및 전기적) 후 시험시료에 대한 분석(X-ray, 초음파 비파괴, 광학현미경 등)을 통하여 제품에 대한 검증 및 문제해결 등 개발품의 품질을 조기 확보할 수 있는 시험서비스입니다.
분석시험 서비스 항목
3D X-ray 비파괴 분석기, 초음파 비파괴 분석기, 광학 현미경
어떤 기업에 필요할까요?
전기, 전자기기 모듈 및 부품 개발 업체
반도체 소자, 패키지 및 전자 부품업체
RFID/USN 제품의 개발용 시제품 제작을 준비하는 업체
반도체 소자 및 모듈 개발 업체
소재/장비/부품 업체
산학연 공동연구개발 프로젝트 관련 대학, 연구소 등
주요 장비현황
3D X-ray 비파괴 분석기, 초음파 비파괴 분석기, 광학 현미경
온습도 챔버2PSL-2KPH(ESPEC)장비사양- Test space dimensions
:W600 × H850 × D600 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Humidity range : 20% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 70 min (-70~180℃)
- Temperature down rate : 75 min (+20~-70℃)기타- 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
:W600 × H850 × D600 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Humidity range : 20% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 70 min (-70~180℃)
- Temperature down rate : 75 min (+20~-70℃)기타- 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
3-Zone 열충격 챔버ES-106L(HITACHI)장비사양- System type : Damper switching type
- Test space dimensions
:W470 × H485 × D460 mm
- High Temperature range : 60℃ ~ 200℃
- Low Temperature range : -70℃ ~ 0℃
- Temperature heat-up rate : 15 min (A.T.~-200℃)
- Temperature down rate : 70 min (A.T.~-75℃)기타- 저온,고온 및 상온의 급속한 온도변화시험
- 급속한 온도변화에 따른 열 충격시험
- IEC 60068-2-14, KS C 0225, JESDA104C 등 규격에 준하는 온도 변화시험
- Test space dimensions
:W470 × H485 × D460 mm
- High Temperature range : 60℃ ~ 200℃
- Low Temperature range : -70℃ ~ 0℃
- Temperature heat-up rate : 15 min (A.T.~-200℃)
- Temperature down rate : 70 min (A.T.~-75℃)기타- 저온,고온 및 상온의 급속한 온도변화시험
- 급속한 온도변화에 따른 열 충격시험
- IEC 60068-2-14, KS C 0225, JESDA104C 등 규격에 준하는 온도 변화시험
진동시험기G-9150(Shinken)장비사양- Force output
:500Kgf vector, sine / 350Kgf rms, random
- Acceleration : 25g (bare table), 8.96g, 6.7g
- Displacement : 50 mm (p-p)
- Frequency : 5 ~ 800 Hz (bare table)
- Loading weight : Max 300kg기타- RFID/USN 제품 및 차량용 전장품의 진동 내구성시험
- 전기, 전자 제품 등 포장 Box 상태의 진동 내구성시험
- 고속 온습도 싸이클 챔버와 연계되는 진동 복합 환경시험
- IEC60068-2-6, 34, KS C 0240, 0292, 0289, 0293, 0294 규격에 준하는 온도/진동 복합 내구성시험
:500Kgf vector, sine / 350Kgf rms, random
- Acceleration : 25g (bare table), 8.96g, 6.7g
- Displacement : 50 mm (p-p)
- Frequency : 5 ~ 800 Hz (bare table)
- Loading weight : Max 300kg기타- RFID/USN 제품 및 차량용 전장품의 진동 내구성시험
- 전기, 전자 제품 등 포장 Box 상태의 진동 내구성시험
- 고속 온습도 싸이클 챔버와 연계되는 진동 복합 환경시험
- IEC60068-2-6, 34, KS C 0240, 0292, 0289, 0293, 0294 규격에 준하는 온도/진동 복합 내구성시험
초가속수명시험시스템REAL-36 G4(CHART)장비사양- Test space dimensions
:W1067 × H1117 × D1067 mm
- Vibration table dimensions
:W914 × D914 mm
- Temperature range : -100 ~ 200℃ (LN2)
- Temperature rate : 60℃/min
- Frequency range : 10~10,000 Hz (true random)
- Maximum g level : 60 g RMS (without load)
- Monitor channel : 4 CH (Accelerometer, thermocouple)기타- 급격한 온도 변화 및 랜덤진동 스트레스를 인가하여 짧은시간내에 제품의 결함 분석 및 개선
- 제품 및 부품의 설꼐 결함, 파괴 한계검출 등 잠재적 고장 확인
- 제품의 수명시험 및 고장률 시험지원
:W1067 × H1117 × D1067 mm
- Vibration table dimensions
:W914 × D914 mm
- Temperature range : -100 ~ 200℃ (LN2)
- Temperature rate : 60℃/min
- Frequency range : 10~10,000 Hz (true random)
- Maximum g level : 60 g RMS (without load)
- Monitor channel : 4 CH (Accelerometer, thermocouple)기타- 급격한 온도 변화 및 랜덤진동 스트레스를 인가하여 짧은시간내에 제품의 결함 분석 및 개선
- 제품 및 부품의 설꼐 결함, 파괴 한계검출 등 잠재적 고장 확인
- 제품의 수명시험 및 고장률 시험지원
정전기내성시험기ESS-2000(Noiseken)장비사양- Output voltage : 0.2 ~ 30kV ± 5%
- Capacitor unit : 150 pF ± 10%, 330 pF ± 10%
- Discharge resistor : 330 ohm ± 10%
- No. of times of discharge : 1 ~ 60000 times
- Discharge inretval : 0.05 ~ 600 s기타- 기기 및 부품의 정전기내성 시험
- 전도체(접촉방전) 및 비전도체(기중방전) 정전기 내성시험
- CISRP 24, IEC 61000-4-2 등 국제규격에 준하는 전자파 내성시험
- Capacitor unit : 150 pF ± 10%, 330 pF ± 10%
- Discharge resistor : 330 ohm ± 10%
- No. of times of discharge : 1 ~ 60000 times
- Discharge inretval : 0.05 ~ 600 s기타- 기기 및 부품의 정전기내성 시험
- 전도체(접촉방전) 및 비전도체(기중방전) 정전기 내성시험
- CISRP 24, IEC 61000-4-2 등 국제규격에 준하는 전자파 내성시험
3D X-Ray 비파괴 분석X-eye SF 160(SEC)장비사양- Focus : 1um
- Tube Voltage : Max. 160 KV
- Geometric Magniflcation : Max. 2,000 X
- CT Funtion : 3D Viewer & Analysis
- Table Size : 510 × 460 mm
- Tube Voltage : Max. 160 KV
- Geometric Magniflcation : Max. 2,000 X
- CT Funtion : 3D Viewer & Analysis
- Table Size : 510 × 460 mm
온습도 챔버1PDL-4KP(ESPEC)장비사양- Test space dimensions
:W1000 × H1000 × D800 mm
- Temperature range : -40℃ ~ 100℃
- Humidity range : 5% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 45 min (-40~100℃)
- Temperature down rate : 50 min (+20~-40℃)기타- 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
:W1000 × H1000 × D800 mm
- Temperature range : -40℃ ~ 100℃
- Humidity range : 5% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 45 min (-40~100℃)
- Temperature down rate : 50 min (+20~-40℃)기타- 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
온습도 챔버2PSL-2KPH(ESPEC)장비사양- Test space dimensions
:W600 × H850 × D600 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Humidity range : 20% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 70 min (-70~180℃)
- Temperature down rate : 75 min (+20~-70℃)기타- 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
:W600 × H850 × D600 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Humidity range : 20% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 70 min (-70~180℃)
- Temperature down rate : 75 min (+20~-70℃)기타- 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
온습도 챔버 3~4EC-85LHHP(HITACHI)장비사양- Test space dimensions
:W1000 × H1000 × D800 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 150℃
- Humidity range : 20% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 50 min (-70~150℃)
- Temperature down rate : 75 min (+20~-70℃)기타- 광범위 온습도 환경시험
- 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- ICE 60068-2-1/2/78 , KS , JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
:W1000 × H1000 × D800 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 150℃
- Humidity range : 20% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 50 min (-70~150℃)
- Temperature down rate : 75 min (+20~-70℃)기타- 광범위 온습도 환경시험
- 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- ICE 60068-2-1/2/78 , KS , JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
온습도 챔버 5~8EC-85MHHPM-W(HITACHI)장비사양- Test space dimensions
:W1000 × H1000 × D800 mm
- Temperature range : -40℃ ~ 120℃
- Humidity range : 20% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 50 min (-40~120℃)
- Temperature down rate : 60 min (+20~-40℃)
- Wide view glass size : W900 × H900 mm기타- 실시간 관측이 필요하는 온습도 환경시험
- 무선 인식 지원 온습도 환경시험
- 저온,고온,습도(저습) 환경시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
:W1000 × H1000 × D800 mm
- Temperature range : -40℃ ~ 120℃
- Humidity range : 20% ~ 98% R.H.
- Temperature heat-up rate : 50 min (-40~120℃)
- Temperature down rate : 60 min (+20~-40℃)
- Wide view glass size : W900 × H900 mm기타- 실시간 관측이 필요하는 온습도 환경시험
- 무선 인식 지원 온습도 환경시험
- 저온,고온,습도(저습) 환경시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
온습도 대형 챔버WZH30B2 SP(Angelantoni)장비사양- Test space dimensions
:W3000 × H3000 × D3000 mm
- Door dimensions : W2000 × H2000 mm
- Floor load capacity : Max 4000 kg/m2
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Temperature accuracy : ±1℃ (in time, in space)
- Temperature heat-up rate : 2℃/min (-45~155℃)
- Temperature down rate : 2.2℃/min (+155~-45℃)
- Humidity range : 10% R.H. ~ 95% R.H.
- Humidity stability : ±3% R.H.기타- 발진기 및 대형 기기 온습도 환경시험
- 저온,고온,습도 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
:W3000 × H3000 × D3000 mm
- Door dimensions : W2000 × H2000 mm
- Floor load capacity : Max 4000 kg/m2
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Temperature accuracy : ±1℃ (in time, in space)
- Temperature heat-up rate : 2℃/min (-45~155℃)
- Temperature down rate : 2.2℃/min (+155~-45℃)
- Humidity range : 10% R.H. ~ 95% R.H.
- Humidity stability : ±3% R.H.기타- 발진기 및 대형 기기 온습도 환경시험
- 저온,고온,습도 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
폭발보호온습도챔버DY 1200 C SP(Angelantoni)장비사양- Test space dimensions
:W1000 × H1020 × D1130 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Temperature uniformity : ±2℃ (in space)
- Temperature heat-up rate : 4℃/min
- Temperature down rate : 3℃/min
- Humidity range : 20% ~ 94% R.H.
- Humidity stability : ±3% R.H.
- Safety system : N2 for inert of test space, Fire detection, Over pressure release, Venting duct기타- 능동형 RFID Tag, Sensor Node 등 온습도 환경시험
- Lithium Battery 등 폭발위험성 시료의 온습도 환경시험
- 폭발위험성 제품의 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
:W1000 × H1020 × D1130 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Temperature uniformity : ±2℃ (in space)
- Temperature heat-up rate : 4℃/min
- Temperature down rate : 3℃/min
- Humidity range : 20% ~ 94% R.H.
- Humidity stability : ±3% R.H.
- Safety system : N2 for inert of test space, Fire detection, Over pressure release, Venting duct기타- 능동형 RFID Tag, Sensor Node 등 온습도 환경시험
- Lithium Battery 등 폭발위험성 시료의 온습도 환경시험
- 폭발위험성 제품의 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- 온도,습도(저습) 변화 싸이클시험
- IEC 60068-2-1/2/78, KS, JESD22 등 규격에 준하는 온습도 환경시험
2-Zone 열충격 챔버TSD-100(ESPEC)장비사양- System type : Elevator transportation type
- Test space dimensions
:W710 × H345 × D600 mm
- High Temperature range : 60℃ ~ 200℃
- Low Temperature range : -65℃ ~ 0℃
- Temperature down rate : 90min (A.T.~-77℃)기타- 저온 및 고온의 급속한 온도변화시험
- 급속한 온도변화에 따른 열 충격시험
- IEC 60068-2-14, KS C 0225, JESDA104C 등 규격에 준하는 온도 변화시험
- Test space dimensions
:W710 × H345 × D600 mm
- High Temperature range : 60℃ ~ 200℃
- Low Temperature range : -65℃ ~ 0℃
- Temperature down rate : 90min (A.T.~-77℃)기타- 저온 및 고온의 급속한 온도변화시험
- 급속한 온도변화에 따른 열 충격시험
- IEC 60068-2-14, KS C 0225, JESDA104C 등 규격에 준하는 온도 변화시험
3-Zone 열충격 챔버ES-106L(HITACHI)장비사양- System type : Damper switching type
- Test space dimensions
:W470 × H485 × D460 mm
- High Temperature range : 60℃ ~ 200℃
- Low Temperature range : -70℃ ~ 0℃
- Temperature heat-up rate : 15 min (A.T.~-200℃)
- Temperature down rate : 70 min (A.T.~-75℃)기타- 저온,고온 및 상온의 급속한 온도변화시험
- 급속한 온도변화에 따른 열 충격시험
- IEC 60068-2-14, KS C 0225, JESDA104C 등 규격에 준하는 온도 변화시험
- Test space dimensions
:W470 × H485 × D460 mm
- High Temperature range : 60℃ ~ 200℃
- Low Temperature range : -70℃ ~ 0℃
- Temperature heat-up rate : 15 min (A.T.~-200℃)
- Temperature down rate : 70 min (A.T.~-75℃)기타- 저온,고온 및 상온의 급속한 온도변화시험
- 급속한 온도변화에 따른 열 충격시험
- IEC 60068-2-14, KS C 0225, JESDA104C 등 규격에 준하는 온도 변화시험
액조식 열충격 챔버ES-66EX(H)-L(HITACHI)장비사양- System type : Two liquid bath type [Galden(D02TS)]
- Specimen basket dimensions
:W185 × H200 × D150 mm
- High Temperature range : 70℃ ~ 200℃
- Low Temperature range : -65℃ ~ 0℃
- Temperature heat-up rate : 90 min (A.T.~-150℃)
- Temperature down rate : 90 min (A.T.~-65℃)기타- 저온 및 고온 급속한 온도변화시험
- 급속한 온도변화에 따른 열 충격시험
- 부품 및 반도체 소자의 열 충격시험
- IEC 60068-2-14, KS C 0225, JESDA104C 등 규격에 준하는 온도변화시험
- Specimen basket dimensions
:W185 × H200 × D150 mm
- High Temperature range : 70℃ ~ 200℃
- Low Temperature range : -65℃ ~ 0℃
- Temperature heat-up rate : 90 min (A.T.~-150℃)
- Temperature down rate : 90 min (A.T.~-65℃)기타- 저온 및 고온 급속한 온도변화시험
- 급속한 온도변화에 따른 열 충격시험
- 부품 및 반도체 소자의 열 충격시험
- IEC 60068-2-14, KS C 0225, JESDA104C 등 규격에 준하는 온도변화시험
진동시험기G-9150(Shinken)장비사양- Force output
:500Kgf vector, sine / 350Kgf rms, random
- Acceleration : 25g (bare table), 8.96g, 6.7g
- Displacement : 50 mm (p-p)
- Frequency : 5 ~ 800 Hz (bare table)
- Loading weight : Max 300kg기타- RFID/USN 제품 및 차량용 전장품의 진동 내구성시험
- 전기, 전자 제품 등 포장 Box 상태의 진동 내구성시험
- 고속 온습도 싸이클 챔버와 연계되는 진동 복합 환경시험
- IEC60068-2-6, 34, KS C 0240, 0292, 0289, 0293, 0294 규격에 준하는 온도/진동 복합 내구성시험
:500Kgf vector, sine / 350Kgf rms, random
- Acceleration : 25g (bare table), 8.96g, 6.7g
- Displacement : 50 mm (p-p)
- Frequency : 5 ~ 800 Hz (bare table)
- Loading weight : Max 300kg기타- RFID/USN 제품 및 차량용 전장품의 진동 내구성시험
- 전기, 전자 제품 등 포장 Box 상태의 진동 내구성시험
- 고속 온습도 싸이클 챔버와 연계되는 진동 복합 환경시험
- IEC60068-2-6, 34, KS C 0240, 0292, 0289, 0293, 0294 규격에 준하는 온도/진동 복합 내구성시험
충격시험기AS-ll 24×32(L.A.B)장비사양- Half sine
:Acceleration : 10 ~ 3000 g
:Duration : 0.2 ~ 40 ms
- Trapezoidal pulse
:Acceleration : 10 ~ 100 g
:Duration : 3 ~ 65 ms기타- RFID/USN 제품 및 통신기기의 기계적 충격 시험
- IEC 60068-2-22, 27, KS C 0241 규격에 준하는 기계적 충격 시험
:Acceleration : 10 ~ 3000 g
:Duration : 0.2 ~ 40 ms
- Trapezoidal pulse
:Acceleration : 10 ~ 100 g
:Duration : 3 ~ 65 ms기타- RFID/USN 제품 및 통신기기의 기계적 충격 시험
- IEC 60068-2-22, 27, KS C 0241 규격에 준하는 기계적 충격 시험
낙하시험기AD-500(L.A.B)장비사양- Drop height : 1800 mm
- Package size : D762 mm
(no limited on height and width)
- Test weight : 225 kg기타- 포장 Box용 자유 낙하 내구성 시험
- ISO 2248, ASTM D-5276 등 규격에 준하는 자유낙하시험
- Package size : D762 mm
(no limited on height and width)
- Test weight : 225 kg기타- 포장 Box용 자유 낙하 내구성 시험
- ISO 2248, ASTM D-5276 등 규격에 준하는 자유낙하시험
낙하시험기DT-205H(YOSHIDA SEIKI)장비사양- Drop height : 250 ~ 2000 mm
- Test sample size : W400 × D300 mm
- Test sample weight : 5 kg
- Acceleration measurement : 10 ~ 10000 g
- Super-high speed camera
:Frame : 30 f/s
:Resolution : 30 Megapixels기타- 통신기기,소형 무선 제품 및 모듈의 경량 시료 면, 각 낙하시험
- IEC 60068-2-31, KS C 0243 등 규격에 준하는 낙하시험
- Test sample size : W400 × D300 mm
- Test sample weight : 5 kg
- Acceleration measurement : 10 ~ 10000 g
- Super-high speed camera
:Frame : 30 f/s
:Resolution : 30 Megapixels기타- 통신기기,소형 무선 제품 및 모듈의 경량 시료 면, 각 낙하시험
- IEC 60068-2-31, KS C 0243 등 규격에 준하는 낙하시험
인장압축시험기LROK-plus, TC 550(LLOYD)장비사양- Capacity : 500 kgf, 50 kgf, 1 kgf
- Test speed : 0.01 ~ 1016 mm/min
- Measuring accuracy : ± 0.5%
- Temperature range : -70 ~ 300℃
- Temperature rate : 10℃/min (avg)
- Temperature accuracy : ± 0.5℃기타- HF/UHF Tag 제품의 인장,압축,비틀림시험
- 온도 유지 및 변화 환경의 인장,압축,비틀림시험
- ISO 6892, 37 ASTM D882, D412, D624 등 규격에 준하는 인장,압축,비틀림시험
- Test speed : 0.01 ~ 1016 mm/min
- Measuring accuracy : ± 0.5%
- Temperature range : -70 ~ 300℃
- Temperature rate : 10℃/min (avg)
- Temperature accuracy : ± 0.5℃기타- HF/UHF Tag 제품의 인장,압축,비틀림시험
- 온도 유지 및 변화 환경의 인장,압축,비틀림시험
- ISO 6892, 37 ASTM D882, D412, D624 등 규격에 준하는 인장,압축,비틀림시험
스마트카드 수명시험기PLUSTECH-12(플러스테크)장비사양- Test sample : 0 ~ 10 ea
- Test angle adi : 0 ~ 35 °
- Test speed : 5 ~ 60 cycles/min
- Bending distance adi : 0 ~ 30 mm
- Standard : RS C 0080기타- 접촉식/비접촉식 스마트카드 및 RFID Tag의 수명 내구성시험
- 스마트 카드의 비틀림,굽힘,3-Wheel시험
- RS C 0080, IEC 10373-3 규격에 준하는 스마트 카드 수명시험
- Test angle adi : 0 ~ 35 °
- Test speed : 5 ~ 60 cycles/min
- Bending distance adi : 0 ~ 30 mm
- Standard : RS C 0080기타- 접촉식/비접촉식 스마트카드 및 RFID Tag의 수명 내구성시험
- 스마트 카드의 비틀림,굽힘,3-Wheel시험
- RS C 0080, IEC 10373-3 규격에 준하는 스마트 카드 수명시험
고온 챔버PHH-201M(ESPEC)장비사양- Test space dimensions
:W600 × H600 × D600 mm
- Temperature range : A.T. ~ 300℃
- Temperature heat-up rate : Max 5℃/min
- Temperature uniformity : ± 0.5 ℃ at +100℃,
±1.5℃ at +200℃, ±2.5℃ at +300℃기타- 특수 온도(300℃ 이하) 고온 환경시험
- 고온 내구성(내열) 특성시험
- 부품 및 반도체 소자의 고온시험
:W600 × H600 × D600 mm
- Temperature range : A.T. ~ 300℃
- Temperature heat-up rate : Max 5℃/min
- Temperature uniformity : ± 0.5 ℃ at +100℃,
±1.5℃ at +200℃, ±2.5℃ at +300℃기타- 특수 온도(300℃ 이하) 고온 환경시험
- 고온 내구성(내열) 특성시험
- 부품 및 반도체 소자의 고온시험
고도(감압) 챔버ALT-6510-150(HUTECH)장비사양- Test space dimensions
:W500 × H500 × D600 mm
- Temperature range : -65 ~ 100℃
- Temperature rate : ±0.5℃/min
- Temperature deviation : ±2℃
- Pressure range : 1013.3 ~ 10 mbar (1 kpa)
- Condition : -65℃ ~ +100℃ @ 10 mbar (1 kpa)기타- 고도 변환에 따른 온도 및 감압에 대한 내구성시험
- 진공 (~1 kpa) 환경 유지 상태에서 온도 변화 내구성시험
- IEC 60068-2-13, KS C 0229, KS C 0233, KS C 0234 등 규격에 준하는 감압 및 온도 복합 내구성시험
:W500 × H500 × D600 mm
- Temperature range : -65 ~ 100℃
- Temperature rate : ±0.5℃/min
- Temperature deviation : ±2℃
- Pressure range : 1013.3 ~ 10 mbar (1 kpa)
- Condition : -65℃ ~ +100℃ @ 10 mbar (1 kpa)기타- 고도 변환에 따른 온도 및 감압에 대한 내구성시험
- 진공 (~1 kpa) 환경 유지 상태에서 온도 변화 내구성시험
- IEC 60068-2-13, KS C 0229, KS C 0233, KS C 0234 등 규격에 준하는 감압 및 온도 복합 내구성시험
강우(방수) 시험기PLUSTECH-13(플러스테크)장비사양- Test space dimensions
:Max W1000 × H1000 × D1000 mm
- Test angle adjustable : ±0~180°
- Driving units : 0 ~ 15 cycles/min
- IPX5 Test : 12.5 L/min ±5% (nozzle : ￠ 6.3 mm)
- IPX6 Test : 100 L/min ±5% (nozzle : ￠ 12.5 mm)
- Standard : IEC 60529 [IPX1 ~ IPX8]기타- 실외에 설치되는 제품의 강우 환경 내구성 및 방수시험
- KS C IEC 60529 [IPX1~IPX8] 규격에 준하는 외곽에 대한 방수 보호 등급 시험
:Max W1000 × H1000 × D1000 mm
- Test angle adjustable : ±0~180°
- Driving units : 0 ~ 15 cycles/min
- IPX5 Test : 12.5 L/min ±5% (nozzle : ￠ 6.3 mm)
- IPX6 Test : 100 L/min ±5% (nozzle : ￠ 12.5 mm)
- Standard : IEC 60529 [IPX1 ~ IPX8]기타- 실외에 설치되는 제품의 강우 환경 내구성 및 방수시험
- KS C IEC 60529 [IPX1~IPX8] 규격에 준하는 외곽에 대한 방수 보호 등급 시험
분진내성시험기ST-1000U(WEISS)장비사양- Test space dimensions
:W1000 × H1000 × D1000 mm
- Construction : Vertical type
- Cycle function : 6 sec movement, 15 min pause
- Dust type : Talcum, Portland Cement, Arizona dust기타- 실외에 설치되는 제품의 분진 환경 내구성시험
- KS C IEC 60529 [IP5X,IP6X]규격에 준하는 외곽에 대한 분진 보호 등급시험
- IEC 60068-2-68[La2], DIN 40050 Part9[Vertical], SAE J 575[부유분진] 규격에 준하는 분진시험
:W1000 × H1000 × D1000 mm
- Construction : Vertical type
- Cycle function : 6 sec movement, 15 min pause
- Dust type : Talcum, Portland Cement, Arizona dust기타- 실외에 설치되는 제품의 분진 환경 내구성시험
- KS C IEC 60529 [IP5X,IP6X]규격에 준하는 외곽에 대한 분진 보호 등급시험
- IEC 60068-2-68[La2], DIN 40050 Part9[Vertical], SAE J 575[부유분진] 규격에 준하는 분진시험
염수분무시험기SC/KWT-450(WEISS)장비사양- Test space dimensions
:W850 × H740 × D570 mm
- Temperature range
- Salt spray fog test : Max +50℃
- Condensate test : Max +45℃
- Humidifier : Max +75℃기타- RFID/USN 제품 및 선박용 전장품의 염수 내식성시험
- 전기,전자 제품의 Condensation시험
- 염수 농도에 따른 부식의 환경시험
- KS C 0223, KS C 0224, IEC 60749-13 규격에 준하는 염수 분무시험
:W850 × H740 × D570 mm
- Temperature range
- Salt spray fog test : Max +50℃
- Condensate test : Max +45℃
- Humidifier : Max +75℃기타- RFID/USN 제품 및 선박용 전장품의 염수 내식성시험
- 전기,전자 제품의 Condensation시험
- 염수 농도에 따른 부식의 환경시험
- KS C 0223, KS C 0224, IEC 60749-13 규격에 준하는 염수 분무시험
유동혼합가스부식시험기WK3-1000/70 C S(WEISS)장비사양- Dimensions : W1100 × H950 × D950 mm
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Temperature uniformity : ±2℃
- Temperature heat-up rate : 4℃/min
- Temperature down rate : 2.5℃/min
- Humidity stability : ±3 R.H.
- Noxious Gas Test
- Dimensions : W810 × H700 × D600 mm
- load : 10kg, wind velocity : 20~60 m/h
- Temperature range : -15℃ ~ 40℃(±1℃)
- Humidity range : 30% R.H. ~ 80% R.H.(±3%)기타- 실외에 설치되는 제품에 대한 유해대기가스 4종(H2S,SO2,NO2,Cl2)부식시험
- 온습도챔버로 활용되어 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- IEC 60068-2-60(Method1~4),42,43,JIS H 8502(D1~3)규격에 준하는 유동혼합가스부식시험
- Temperature range : -70℃ ~ 180℃
- Temperature uniformity : ±2℃
- Temperature heat-up rate : 4℃/min
- Temperature down rate : 2.5℃/min
- Humidity stability : ±3 R.H.
- Noxious Gas Test
- Dimensions : W810 × H700 × D600 mm
- load : 10kg, wind velocity : 20~60 m/h
- Temperature range : -15℃ ~ 40℃(±1℃)
- Humidity range : 30% R.H. ~ 80% R.H.(±3%)기타- 실외에 설치되는 제품에 대한 유해대기가스 4종(H2S,SO2,NO2,Cl2)부식시험
- 온습도챔버로 활용되어 저온,고온,습도(저습) 내구성시험
- IEC 60068-2-60(Method1~4),42,43,JIS H 8502(D1~3)규격에 준하는 유동혼합가스부식시험
HAST챔버EHS-221M(ESPEC)장비사양- Test space dimensions : ？355×D426 mm
- Temperature range : 105.6 ~ 142.9℃
- Humidity range : 75 ~ 100% R.H.
- Pressure range : up to 0.196 Mpa (guage)기타- 반도체 및 제품 내부에 압력을 가하여 수분 침투 여부시험
- PCB 기판 및 반도체 패키징 제품의 가습,가열,가속 스트레스 시험
- 초가속(온도,습도,가압)스트레스 인가제품 수명/고장률 시험
- IEC 60749-4, JESD22-A110-B 규격에 준하는 HAST시험
- Temperature range : 105.6 ~ 142.9℃
- Humidity range : 75 ~ 100% R.H.
- Pressure range : up to 0.196 Mpa (guage)기타- 반도체 및 제품 내부에 압력을 가하여 수분 침투 여부시험
- PCB 기판 및 반도체 패키징 제품의 가습,가열,가속 스트레스 시험
- 초가속(온도,습도,가압)스트레스 인가제품 수명/고장률 시험
- IEC 60749-4, JESD22-A110-B 규격에 준하는 HAST시험
초가속수명시험시스템REAL-36 G4(CHART)장비사양- Test space dimensions
:W1067 × H1117 × D1067 mm
- Vibration table dimensions
:W914 × D914 mm
- Temperature range : -100 ~ 200℃ (LN2)
- Temperature rate : 60℃/min
- Frequency range : 10~10,000 Hz (true random)
- Maximum g level : 60 g RMS (without load)
- Monitor channel : 4 CH (Accelerometer, thermocouple)기타- 급격한 온도 변화 및 랜덤진동 스트레스를 인가하여 짧은시간내에 제품의 결함 분석 및 개선
- 제품 및 부품의 설꼐 결함, 파괴 한계검출 등 잠재적 고장 확인
- 제품의 수명시험 및 고장률 시험지원
:W1067 × H1117 × D1067 mm
- Vibration table dimensions
:W914 × D914 mm
- Temperature range : -100 ~ 200℃ (LN2)
- Temperature rate : 60℃/min
- Frequency range : 10~10,000 Hz (true random)
- Maximum g level : 60 g RMS (without load)
- Monitor channel : 4 CH (Accelerometer, thermocouple)기타- 급격한 온도 변화 및 랜덤진동 스트레스를 인가하여 짧은시간내에 제품의 결함 분석 및 개선
- 제품 및 부품의 설꼐 결함, 파괴 한계검출 등 잠재적 고장 확인
- 제품의 수명시험 및 고장률 시험지원
정전기내성시험기ESS-2000(Noiseken)장비사양- Output voltage : 0.2 ~ 30kV ± 5%
- Capacitor unit : 150 pF ± 10%, 330 pF ± 10%
- Discharge resistor : 330 ohm ± 10%
- No. of times of discharge : 1 ~ 60000 times
- Discharge inretval : 0.05 ~ 600 s기타- 기기 및 부품의 정전기내성 시험
- 전도체(접촉방전) 및 비전도체(기중방전) 정전기 내성시험
- CISRP 24, IEC 61000-4-2 등 국제규격에 준하는 전자파 내성시험
- Capacitor unit : 150 pF ± 10%, 330 pF ± 10%
- Discharge resistor : 330 ohm ± 10%
- No. of times of discharge : 1 ~ 60000 times
- Discharge inretval : 0.05 ~ 600 s기타- 기기 및 부품의 정전기내성 시험
- 전도체(접촉방전) 및 비전도체(기중방전) 정전기 내성시험
- CISRP 24, IEC 61000-4-2 등 국제규격에 준하는 전자파 내성시험
3D X-Ray 비파괴 분석X-eye SF 160(SEC)장비사양- Focus : 1um
- Tube Voltage : Max. 160 KV
- Geometric Magniflcation : Max. 2,000 X
- CT Funtion : 3D Viewer & Analysis
- Table Size : 510 × 460 mm
- Tube Voltage : Max. 160 KV
- Geometric Magniflcation : Max. 2,000 X
- CT Funtion : 3D Viewer & Analysis
- Table Size : 510 × 460 mm
초음파 비파괴분석D9500(Sonoscan)장비사양- Immersion Tank Size : 500 × 500 mm
- Max.Scan Area : 305 × 305 mm
- Transducer : 15,20,30,50,100,230 MHz
- Scan Function : A B C T Scan, Multi layer
- Min. Image Resolution : 1um
- Gain : Max. 95dB Gain & 0.5dB Steps기타- 피검사체를 파괴시키지 않고 초음파를 제품에 투사하여 밀도에따라 다르게 투과되는 특성을 활용하여 이미지화 함
- 본딩 접착부, 대상물의 내부 Void 등 결함 유무와 성질 구조파악에 활용
- Max.Scan Area : 305 × 305 mm
- Transducer : 15,20,30,50,100,230 MHz
- Scan Function : A B C T Scan, Multi layer
- Min. Image Resolution : 1um
- Gain : Max. 95dB Gain & 0.5dB Steps기타- 피검사체를 파괴시키지 않고 초음파를 제품에 투사하여 밀도에따라 다르게 투과되는 특성을 활용하여 이미지화 함
- 본딩 접착부, 대상물의 내부 Void 등 결함 유무와 성질 구조파악에 활용
측정 현미경STM-TS350(Olympus)장비사양- Stage Size : 540 × 540 mm
- X,Y Axis Range : 350 × 350 mm
- 대물렌즈 : 1X,3X,5X,10X,20X,50X,100X
- 접안렌즈 : MM6-OCC10X
- Counter Display : Min. Readout 0.1um
- 자동 Edge 검출 기능기타- 다양한 제품에 대응되는 외관 검사지원
- HostComputer로 Sample측정
- 이미지 촬영 및 측정된 데이터를 엑셀로 저장함
- 길이,높이,면적,지름(반지름),각도 등 다양한 측정가능
- X,Y Axis Range : 350 × 350 mm
- 대물렌즈 : 1X,3X,5X,10X,20X,50X,100X
- 접안렌즈 : MM6-OCC10X
- Counter Display : Min. Readout 0.1um
- 자동 Edge 검출 기능기타- 다양한 제품에 대응되는 외관 검사지원
- HostComputer로 Sample측정
- 이미지 촬영 및 측정된 데이터를 엑셀로 저장함
- 길이,높이,면적,지름(반지름),각도 등 다양한 측정가능
